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MAPPING測(cè)試模塊：可在已有的測(cè)試系統(tǒng)中加入Mapping的測(cè)量功能，減少您為單獨(dú)采購(gòu)表面均勻性測(cè)試系統(tǒng)而多支付的一部分費(fèi)用。

多結(jié)電池測(cè)試模塊：您如果需要測(cè)量的是非晶薄膜電池，特別是多結(jié)電池的時(shí)候，一般的測(cè)試方法是不夠的，需要在美國(guó)菲銳斯任意一款量子效率測(cè)試系統(tǒng)中增加多結(jié)測(cè)試模塊才能進(jìn)行測(cè)量。由于不同機(jī)構(gòu)的電池響應(yīng)差別很大，層數(shù)不同，所以我們能夠提供豐富的滿足您專屬測(cè)試需要的偏光?。

太陽(yáng)光譜驗(yàn)證儀是專門(mén)針對(duì)太陽(yáng)光模擬器光譜匹配度測(cè)試而設(shè)計(jì)的，適用于測(cè)量連續(xù)和脈沖型太陽(yáng)模擬器的光譜特性，我們的光譜驗(yàn)證儀可以采用溯源到NIST的光譜輻射照度（根據(jù)您的需要選擇），配有對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)證書(shū)。

樣品承載臺(tái)：國(guó)菲銳斯提供豐富的樣品臺(tái)選擇空間,還包括真空吸附及溫控裝置，并可為您的電池量身訂做專有的測(cè)試夾具。

IQE內(nèi)量子效率模塊：美國(guó)菲銳斯任意一款量子效率測(cè)試系統(tǒng)中增加內(nèi)量子效率模塊，都可以實(shí)現(xiàn)在外量子效率測(cè)試的基礎(chǔ)上進(jìn)行內(nèi)量子效率的測(cè)試計(jì)算。同時(shí)也滿足了反射率，透射率的測(cè)量，部分實(shí)現(xiàn)了分光光度計(jì)的功能，為實(shí)驗(yàn)室降低設(shè)備采購(gòu)預(yù)算提供了有效的渠道。

I-V 測(cè)試軟件VER3.2：高精度的數(shù)字源表精度的數(shù)字源表可以作為穩(wěn)定的電流或者電壓源,更具備理想的電流電壓測(cè)試能力,可以準(zhǔn)確的提供太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試的電路條件和測(cè)試手段。I-V測(cè)量使用儀表根據(jù)實(shí)驗(yàn)室電池材料具體特性,以及其他要求確定,上圖僅為示例。